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题名:
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半导体器件可靠性物理 ban dao ti qi jian ke kao xing wu li / 高光渤, 李学信编著 , |
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ISBN:
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价格： CNY4.65 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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601页 |
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出版发行:
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出版地： 出版社： 科学出版社 出版日期： 1987.11 |
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主题词:
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半导体器件-可靠性物理学 |
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中图分类法:
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TN306 版次： 4 |