题名:
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半导体制造中的质量可靠性与创新 ban dao ti zhi zao zhong de zhi liang ke kao xing yu chuang xin / 简维廷,郭位,(美)张启华编著 , |
ISBN:
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978-7-121-28246-1 价格: CNY98.00 |
语种:
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chi |
载体形态:
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271页 图 26cm |
出版发行:
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出版地: 北京 出版社: 电子工业出版社 出版日期: 2016 |
内容提要:
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本书以集成电路产业为背景,一方面介绍了质量与可靠性的基础知识,另一方面以众多实例介绍了质量与可靠性在这一领域的应用。本书共4章。第一章首先简单介绍了中国集成电路产业目前发展的状况及趋势,之后以集成电路的制造流程为主线,介绍了在集成电路制造过程中,质量与可靠性管理工作的主要内容,最后简要地介绍了作者们过去数十年里,在质量与可靠性管理方面的创新。第二章到第四章分别针对质量、可靠性和失效分析(Failure Analysis,FA)这三大课题,进行了详细的介绍。 |
主题词:
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集成电路 电子工业 中国 |
中图分类法:
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F426.63 版次: 5 |
主要责任者:
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简维廷 jian wei ting 编著 |
主要责任者:
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郭位 guo wei 编著 |
主要责任者:
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张启华 zhang qi hua 编著 |