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题名:
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半导体制造中的质量可靠性与创新 ban dao ti zhi zao zhong de zhi liang ke kao xing yu chuang xin / 简维廷,郭位,(美)张启华编著 , |
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ISBN:
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978-7-121-28246-1 价格： CNY98.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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271页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2016 |
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内容提要:
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本书以集成电路产业为背景，一方面介绍了质量与可靠性的基础知识，另一方面以众多实例介绍了质量与可靠性在这一领域的应用。本书共4章。第一章首先简单介绍了中国集成电路产业目前发展的状况及趋势，之后以集成电路的制造流程为主线，介绍了在集成电路制造过程中，质量与可靠性管理工作的主要内容，最后简要地介绍了作者们过去数十年里，在质量与可靠性管理方面的创新。第二章到第四章分别针对质量、可靠性和失效分析（Failure Analysis，FA）这三大课题，进行了详细的介绍。 |
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主题词:
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集成电路 电子工业 中国 |
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中图分类法:
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F426.63 版次： 5 |
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主要责任者:
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简维廷 jian wei ting 编著 |
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主要责任者:
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郭位 guo wei 编著 |
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主要责任者:
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张启华 zhang qi hua 编著 |